Hyperfine interaction of defects in semiconductors

著者

• Langouche, G.

書誌事項

Hyperfine interaction of defects in semiconductors

edited by G. Langouche

Elsevier, 1992

注記

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA18677822
• ISBN:
  • 044489134X
• LCCN: 92009203
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Amsterdam ; Tokyo
• ページ数/冊数: ix, 458 p.
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • LCC : QC611.6.D4
  • DC20 : 537.6/22
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Defects
  • LCSH : Hyperfine interactions