Frontiers in electronic testing

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Frontiers in electronic testing

Kluwer Academic Publishers

タイトル別名

FRET

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  • IDDQ testing of VLSI circuits

    edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins

    Kluwer Academic Publishers c1993 Frontiers in electronic testing

    所蔵館8館

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA19587827
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    und
  • 出版地
    Boston
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