Self-testing VLSI design

著者

• I︠A︡rmolik, V. N. (Vi︠a︡cheslav Nikolaevich)
• Kachan, I. V.

書誌事項

Self-testing VLSI design

V.N. Yarmolik, I.V. Kachan

Elsevier, 1993

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA19658685
• ISBN:
  • 0444896406
• LCCN: 92046538
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Amsterdam ; New York
• ページ数/冊数: xi, 345 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.39/5
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design