Chaos and stability in defect processes in semiconductors

著者

• Verner, Igor V.
• Gerasimenko, Nikolai N.
• Corbett, James W.

書誌事項

Chaos and stability in defect processes in semiconductors

editors, I.V. Verner, N.N. Gerasimenko, J.W. Corbett

Trans Tech Publications, c1993

注記

"Defect and diffusion forum vol. 90"--T.p.

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA19997002
• 出版国コード: sz
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Aedermannsdorf, Switzerland
• ページ数/冊数: vi, 203 p.
• 大きさ: 25 cm