Stereology and morphometry in electron microscopy : problems and solutions

著者

• Reith, Albrecht
• Mayhew, Terry M.

書誌事項

Stereology and morphometry in electron microscopy : problems and solutions

edited by Albrecht Reith, Terry M. Mayhew ; with a foreword by Ewald R. Weibel

（An Ultrastructural pathology publication series）

Hemisphere Pub. Corp., c1988

注記

Bibliography: p. 211-212

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA20314424
• ISBN:
  • 0891166238
• LCCN: 87035365
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xix, 215 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : RB43.5
  • DC19 : 616.07/58
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy -- Technique
  • LCSH : Stereology
• 親書誌ID:
  • BA07345999