Symposium on impact testing : presented at the Fifty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing Materials, Atlantic City, N.J., June 27, 1955

書誌事項

Symposium on impact testing : presented at the Fifty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing Materials, Atlantic City, N.J., June 27, 1955

(ASTM special technical publication, no. 176)

ASTM, 1956

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注記

"sponsored by Committee E-1 on Methods of Testing "

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詳細情報
  • NII書誌ID(NCID)
    BA20358940
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Philadelphia
  • ページ数/冊数
    170 p.
  • 大きさ
    23 cm
  • 親書誌ID
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