Electron beam microanalysis

著者

• Beaman, Donald Robert
• Isasi, J. A.

書誌事項

Electron beam microanalysis

by D. R. Beaman and J. A. Isasi

（ASTM special technical publication, 506）

American Society for Testing and Materials, [1972]

注記

Bibliography: p. 75-[80]

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA2051708X
• LCCN: 74189005
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Philadelphia
• ページ数/冊数: 79, [1] p
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • LCC : QD98
  • DC : 543/.081
• 件名:
  • LCSH : Microchemistry
  • LCSH : Electron probe microanalysis
  • LCSH : Electron microscopy
• 親書誌ID:
  • BA00068096