Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965

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Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965

(ASTM special technical publication, no. 396)

ASTM, 1966

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注記

"sponsored by Subcommittee XI (Electron Microscopy, Diffraction, and Microprobe Analysis) of Committee E-4 on Metallography."

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詳細情報
  • NII書誌ID(NCID)
    BA20544548
  • LCCN
    59008773
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Philadelphia, Pa.
  • ページ数/冊数
    131 p.
  • 大きさ
    23 cm
  • 親書誌ID
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