VLSI fault modeling and testing techniques

著者

• Zobrist, George W. (George Winston)

書誌事項

VLSI fault modeling and testing techniques

edited by George W. Zobrist

（VLSI design automation series）

Ablex Pub. Corp., c1993

注記

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA20836204
• ISBN:
  • 0893917818
• LCCN: 92023433
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Norwood, NJ
• ページ数/冊数: vii, 199 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.39/5
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing
  • LCSH : Fault-tolerant computing
• 親書誌ID:
  • BA2083634X