Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

著者

• Lee, Robert Edward

書誌事項

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

Robert Edward Lee

PTR Prentice Hall, c1993

注記

Includes bibliographical references (p. 439-441) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA20876377
• ISBN:
  • 0138137595
• LCCN: 91045512
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Englewood Cliffs, N.J.
• ページ数/冊数: xiii, 458 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.S3
  • NLM : QH 212.S3 L479s
  • DC20 : 502/.8/25
• 件名:
  • LCSH : Scanning electron microscopy
  • LCSH : X-ray microanalysis
  • MESH : Electron Probe Microanalysis
  • MESH : Microscopy, Electron, Scanning