Proceedings : Fifty-first annual meeting : Microscopy Society of America, Cincinnati, Ohio, 1-6 August, 1993

著者

• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America
• Bailey, G. W.
• Rieder, C. L.
• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America

書誌事項

Proceedings : Fifty-first annual meeting : Microscopy Society of America, Cincinnati, Ohio, 1-6 August, 1993

editors, G.W. Bailey, C.L. Rieder

San Francisco Press, 1993

注記

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA21111513
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Francisco, Calif.
• ページ数/冊数: xlii, 1236 p.
• 大きさ: 27 cm