Reliability of gallium arsenide MMICs

著者

• Christou, Aris

書誌事項

Reliability of gallium arsenide MMICs

edited by Aris Christou

（Design and measurement in electronic engineering）

Wiley, c1992

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA21269198
• ISBN:
  • 0471934909
• LCCN: 92020386
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: und
• 出版地: Chichester
• ページ数/冊数: xx, 457 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : TK7876
  • DC20 : 621.381/32
• 件名:
  • LCSH : Microwave integrated circuits -- Reliability
  • LCSH : Microwave integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Gallium arsenide semiconductors -- Reliability
  • LCSH : Gallium arsenide semiconductors -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA06818508