Scanning and transmission electron microscopy : an introduction

著者

• Flegler, Stanley L.
• Heckman, John William
• Klomparens, Karen L.

書誌事項

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction

Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Jr., Karen L. Klomparens

W.H. Freeman, c1993

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA21274416
• ISBN:
  • 0716770474
• LCCN: 93010483
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: und
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: viii, 225 p.
• 大きさ: 27 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.S3
  • DC20 : 502/.8/25
• 件名:
  • LCSH : Scanning electron microscopy
  • LCSH : Transmission electron microscopy