Digital integrated circuit testing from a quality perspective

著者

• Hnatek, Eugene R.

書誌事項

Digital integrated circuit testing from a quality perspective

Eugene R. Hnatek

Van Nostrand Reinhold, c1993

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA21928498
• ISBN:
  • 0442006438
• LCCN: 93013739
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: x, 179 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.3815/48
• 件名:
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing -- Quality control