Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

著者

• Bartsch, Heinz

書誌事項

Elektronenmikroskopische Querschnittsabbildung von Interfaces und Heterostrukturen in Halbleitern

Heinz Bartsch ... [et al.]

（Beiträge zur Forschungstechnologie, Bd. 15）

Akademie-Verlag, 1987

注記

Table of contents and summary in German, English, and Russian

Bibliography: p. 75-79

Includes index

• NII書誌ID(NCID): BA22992812
• ISBN:
  • 3055002334
• LCCN: 88182798
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: ger
• 本文言語コード: ger
• 出版地: Berlin
• ページ数/冊数: x, 84 p.
• 大きさ: 22 cm
• 分類:
  • LCC : QC611.6.S9
  • DC20 : 537.6/226
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Surfaces
  • LCSH : Electron microscopy -- Technique
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Epitaxy
• 親書誌ID:
  • BA01179740