Thinning methodologies for pattern recognition

著者

• Suen, Ching Y.
• Wang, Patrick S.-P.

書誌事項

Thinning methodologies for pattern recognition

edited by C.Y. Suen, P.S.P. Wang

（Series in machine perception and artificial intelligence / editors, H. Bunke, P.S.P. Wang, v. 8）

World Scientific, c1994

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA23011702
• ISBN:
  • 9810214820
• LCCN: 95112781
• 出版国コード: si
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Singapore
• ページ数/冊数: 344 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : TA1637
  • DC20 : 006.4/2
• 件名:
  • LCSH : Image processing -- Digital techniques
  • LCSH : Optical pattern recognition
  • LCSH : Pattern recognition systems
  • LCSH : Parallel processing (Electronic computers)
  • LCSH : Algorithms
• 親書誌ID:
  • BA17261443