High resolution soft X-ray optics : November 18-20, 1981, Brookhaven, New York
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High resolution soft X-ray optics : November 18-20, 1981, Brookhaven, New York
（Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 316）
S.P.I.E.-- the International Society for Optical Engineering, c1982
- : pbk
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注記
Includes bibliographical references and indexes