Imperfections and impurities in semiconductor silicon

著者

• Ravi, K. V.

書誌事項

Imperfections and impurities in semiconductor silicon

K.V. Ravi

Wiley, c1981

注記

"A Wiley-Interscience publication."

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA24156030
• ISBN:
  • 0471078174
• LCCN: 80021978
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiv, 379 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QC611.8.S5
  • DC19 : 537.6/22
• 件名:
  • LCSH : Silicon -- Defects
  • LCSH : Semiconductors -- Defects