Annual Reliability and Maintainability Symposium : 1995 proceedings : Washington, DC USA, 1995 January 16-19

著者

• Reliability and Maintainability Symposium

書誌事項

Annual Reliability and Maintainability Symposium : 1995 proceedings : Washington, DC USA, 1995 January 16-19

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1995

• : soft.
• : case.
• : micro.

タイトル別名

95CH35743

95CB35743

注記

"IEEE catalog number: 95CH35743"

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA2526714X
• ISBN:
  • 0780324706
  • 0780324714
  • 0780324722
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [New York]
• ページ数/冊数: xx, 535, 101 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • NDC8 : 509.8