Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

著者

• Joy, David C.

書誌事項

Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

David C. Joy

（Oxford series in optical and imaging sciences, 9）

Oxford University Press, 1995

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA25524402
• ISBN:
  • 0195088743
• LCCN: 94035642
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: viii, 216 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.E4
  • DC20 : 502/.8/25
• 件名:
  • LCSH : Electron microscopy -- Computer simulation
  • LCSH : Electron probe microanalysis -- Computer simulation
  • LCSH : Monte Carlo method
• 親書誌ID:
  • BA12878548