Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices

著者

• Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices
• Schroder, Dieter K.
• Benton, J. L. (Janet L.)
• Rai-Choudhury, P.

書誌事項

Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices

editors, D.K. Schroder, J.L. Benton, P. Rai-Choudhury

（Proceedings / [Electrochemical Society], v. 94-33）

Electrochemical Society, c1994

タイトル別名

Diagnostic techniques for semiconductor materials and devices 1994

注記

Includes bibliographical references and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA25636359
• ISBN:
  • 1566770920
• LCCN: 94061185
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Pennington, NJ
• ページ数/冊数: xi, 387 p.
• 大きさ: 23 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874.85
  • DC20 : 621.3815/2/0287
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Testing -- Congresses
• 親書誌ID:
  • BA01323290