Scanning probe microscopies III : 6-7 February 1995, San Jose, California ia
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Scanning probe microscopies III : 6-7 February 1995, San Jose, California ia
（Proceedings / SPIE -- the International Society for Optical Engineering, v. 2384）
SPIE--the Society for Optical Engineering, c1995
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注記
Includes bibliographical references and index
