Hot-carrier effects in MOS devices

著者

• 竹田, 英二 タケダ, エイジ
• Yang, C. Y.-W. (Cary Y.-W.)
• Miura-Hamada, Akemi

書誌事項

Hot-carrier effects in MOS devices

by Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada

Academic Press, c1995

注記

Includes references(p187-301) and index

• NII書誌ID(NCID): BA26664881
• ISBN:
  • 0126822409
• LCCN: 95030713
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Diego
• ページ数/冊数: xii,312 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.99.M44
  • DC20 : 537.6/225
• 件名:
  • LCSH : Metal oxide semiconductors
  • LCSH : Hot carriers