Annual Reliability and Maintainability Symposium : 1996 proceedings : Las Vegas, Nevada USA, 1996 January 22-25

著者

• Reliability and Maintainability Symposium

書誌事項

Annual Reliability and Maintainability Symposium : 1996 proceedings : Las Vegas, Nevada USA, 1996 January 22-25

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1996

• : soft.
• : case.
• : micro.

タイトル別名

96CH35885

注記

"IEEE catalog number: 96CH35885"

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA27563063
• ISBN:
  • 0780331125
  • 0780331133
  • 0780331141
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [New York]
• ページ数/冊数: xx, 359, 83 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • NDC8 : 509.8