Photoinduced defects in semiconductors

著者

• Redfield, David
• Bube, Richard H.

書誌事項

Photoinduced defects in semiconductors

David Redfield and Richard H. Bube

（Cambridge studies in semiconductor physics and microelectronic engineering, 4）

Cambridge University Press, 1996

• : pbk

注記

Includes bibliographical references (p. 201-214) and index

• NII書誌ID(NCID): BA27602347
• ISBN:
  • 0521461960
  • 9780521024457
• LCCN: 95032567
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Cambridge
• ページ数/冊数: x, 217 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
  • LCC : QC611.6.D4
  • DC20 : 621.3815/2
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors -- Defects
  • LCSH : Photochemistry
• 親書誌ID:
  • BA20948693