Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
(Informatik-Fachberichte, 140)
Springer-Verlag, c1987
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Note
Originally presented as the author's thesis (doctoral--Universität Karlsruhe, 1986) under the title: Probabilistische Verfahren zur Verbesserung der Testbarkeit synthetisierter digitaler Schaltungen
Includes bibliographical references (p. [121]-133)