Integrating reliability into microelectronics manufacturing

著者

• Christou, Aris

書誌事項

Integrating reliability into microelectronics manufacturing

Aris Christou

（Design and measurement in electronic engineering）

Wiley, c1994

• : pbk

注記

Includes bibliographical references and index

入力は遡及データによる

• NII書誌ID(NCID): BA28000306
• ISBN:
  • 0471944076
  • 0471944084
• LCCN: 93043467
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Chichester ; New York
• ページ数/冊数: xii, 349 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC20 : 621.381/068/5
• 件名:
  • LCSH : Microelectronics -- Quality control
  • LCSH : Integrated circuits -- Reliability
• 親書誌ID:
  • BA06818508