Proceedings : 32nd Annual Meeting of the Electron Microscopy Society of America, St. Louis, Missouri, August 13-15, 1974

著者

• Annual Meeting Electron Microscopy Society of America
• Arceneaux, Claude J.
• Electron Microscopy Society of America

書誌事項

Proceedings : 32nd Annual Meeting of the Electron Microscopy Society of America, St. Louis, Missouri, August 13-15, 1974

edited by Claude J. Arceneaux

Claitor's, 1974

タイトル別名

Electron Microscopy

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA29032501
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Baton Rouge
• ページ数/冊数: 575 p.
• 大きさ: 27 cm