Proceedings : 33rd annual meeting Electron Microscopy Society of America, Las Vegas, Nevada, August 11-15, 1975

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Proceedings : 33rd annual meeting Electron Microscopy Society of America, Las Vegas, Nevada, August 11-15, 1975

edited by C.W. Bailey

Claitor's, 1975

タイトル別名

Electron Microscopy

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注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA29032691
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Baton Rouge
  • ページ数/冊数
    708 p.
  • 大きさ
    27 cm
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