Electron beam x-ray microanalysis

著者

• Heinrich, Kurt F. J.

書誌事項

Electron beam x-ray microanalysis

Kurt F.J. Heinrich

Van Nostrand Reinhold Co., c1981

注記

Includes bibliographical references and indexes

• NII書誌ID(NCID): BA29158317
• ISBN:
  • 0442232861
• LCCN: 80607032
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xxiii, 578 p., [4] leaves of plates
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QD98.E4
  • DC : 543/.0812
• 件名:
  • LCSH : Electron probe microanalysis
  • LCSH : X-ray spectroscopy