73 International Symposium on Fault-Tolerant Computing JUNE 20,21,22 Palo Alto, Calif. : FTC 3 : digest of papers

書誌事項

73 International Symposium on Fault-Tolerant Computing JUNE 20,21,22 Palo Alto, Calif. : FTC 3 : digest of papers

IEEE, c1973

タイトル別名

FTC-3

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注記

IEEE No.73CH0772-4C

収録内容

  • The State of the Art : from Device Testing to Reconfigurable Systems

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA2918256X
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York
  • ページ数/冊数
    182 p.
  • 大きさ
    28 cm
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