73 International Symposium on Fault-Tolerant Computing JUNE 20,21,22 Palo Alto, Calif. : FTC 3 : digest of papers

著者

• IEEE Computer Society
• International Symposium on Fault-Tolerant Computing Systems

書誌事項

73 International Symposium on Fault-Tolerant Computing JUNE 20,21,22 Palo Alto, Calif. : FTC 3 : digest of papers

IEEE, c1973

タイトル別名

FTC-3

注記

IEEE No.73CH0772-4C

収録内容

• The State of the Art : from Device Testing to Reconfigurable Systems

• NII書誌ID(NCID): BA2918256X
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: 182 p.
• 大きさ: 28 cm