Instabilities in MOS devices

著者

• Davis, J. R. (John Richard)

書誌事項

Instabilities in MOS devices

J. R. Davis

（Electrocomponent science monographs, v. 1）

Gordon & Breach Science Publishers, c1981

注記

Includes index

• NII書誌ID(NCID): BA30281638
• ISBN:
  • 0677055900
• LCCN: 80025156
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xv, 175 p.
• 大きさ: 29 cm
• 分類:
  • LCC : TK7871.99.M44
  • DC19 : 621.3815/2
• 件名:
  • LCSH : Metal oxide semiconductors
• 親書誌ID:
  • BA0363362X