Digital circuit testing and testability

著者

• Lala, Parag K.

書誌事項

Digital circuit testing and testability

Parag K. Lala

Academic Press, c1997

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA30378332
• ISBN:
  • 0124343309
• LCCN: 96042114
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Diego
• ページ数/冊数: xii, 199 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874.75
  • DC20 : 621.39/5/0287
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Integrated circuits -- Fault tolerance