Condensed guide for the Stanford revision of the Binet-Simon intelligence tests

著者

• Terman, Lewis Madison

書誌事項

Condensed guide for the Stanford revision of the Binet-Simon intelligence tests

by Lewis M. Terman

（Riverside textbooks in education）

Houghton Mifflin, 1920

• NII書誌ID(NCID): BA3070412X
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston
• ページ数/冊数: 32 p.
• 大きさ: 22 cm
• 件名:
  • FREE : Intelligence tests
• 親書誌ID:
  • BA00478189