イオン・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

Author(s)

Bibliographic Information

イオン・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

研究代表者二瓶好正

二瓶好正, 1997.3

Title Transcription

イオン デンシ デュアル シュウソク ビーム ニ ヨル ヒョウメン キョクショ ブンセキホウ ノ カイハツ

Available at  / 2 libraries

Search this Book/Journal

Note

平成6〜8年度科学研究費補助金(基盤研究(A)(2))研究成果報告書

Details

  • NCID
    BA30884112
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    [東京]
  • Pages/Volumes
    x, 78p
  • Size
    30cm
Page Top