イオン・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

著者

• 二瓶, 好正 ニヘイ, ヨシマサ

書誌事項

イオン・電子デュアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

研究代表者二瓶好正

二瓶好正, 1997.3

タイトル読み

イオン デンシ デュアル シュウソク ビーム ニ ヨル ヒョウメン キョクショ ブンセキホウ ノ カイハツ

注記

平成6〜8年度科学研究費補助金(基盤研究(A)(2))研究成果報告書

• NII書誌ID(NCID): BA30884112
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: [東京]
• ページ数/冊数: x, 78p
• 大きさ: 30cm