全反射放出X線検出による高感度放射光軟X線表面構造解析法の確立

書誌事項

全反射放出X線検出による高感度放射光軟X線表面構造解析法の確立

研究代表者太田俊明

太田俊明, 1997.3

タイトル読み

ゼンハンシャ ホウシュツ Xセン ケンシュツ ニ ヨル コウカンド ホウシャコウ ナンXセン ヒョウメン コウゾウ カイセキホウ ノ カクリツ

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注記

平成7年度〜平成8年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA31013168
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpneng
  • 出版地
    [東京]
  • ページ数/冊数
    1冊
  • 大きさ
    30cm
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