Methodensammlung zur Intelligenzprüfung von Kindern und Jugendlichen

著者

• Stern, William
• Wiegmann, Otto

書誌事項

Methodensammlung zur Intelligenzprüfung von Kindern und Jugendlichen

von William Stern und Otto Wiegmann

（Beihefte zur Zeitschrift für angewandte Psychologie, Beiheft 20 . Hamburger Arbeiten zur Begabungsforschung ; Nr. 3）

J.A. Barth, 1926

3., vollständig umgearb. und erw. Aufl

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA36035088
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: ger
• 本文言語コード: ger
• 出版地: Leipzig
• ページ数/冊数: xvi, 514 p., [12] leaves of plates (some folded)
• 大きさ: 24 cm
• 親書誌ID:
  • BA19230611