Identification of defects in semiconductors

著者

• Stavola, Michael

書誌事項

Identification of defects in semiconductors

volume editor Michael Stavola

（Semiconductors and semimetals, vol. 51A-B）

Academic Press, c1998-

• [A]
• [B]

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA36183890
• ISBN:
  • 0127521593
  • 0127521658
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Diego
• ページ数/冊数: 2 v.
• 大きさ: 24 cm
• 親書誌ID:
  • BA00240449