Semiconductor material and device characterization

著者

• Schroder, Dieter K.

書誌事項

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder

（A Wiley-Interscience publication）

Wiley, c1998

2nd ed

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA36515684
• ISBN:
  • 0471241393
• LCCN: 97052094
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xxiv, 760 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC611
  • DC21 : 621.3815/2
  • NDLC : MC151
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors
  • LCSH : Semiconductors -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA00493885