Bibliographic Information

半導体平坦化CMP技術 : 超LSI製造のキープロセス

土肥俊郎, 河西敏雄, 中川威雄著

(K books, 134)

工業調査会, 1998.7

Title Transcription

ハンドウタイ ヘイタンカ CMP ギジュツ : チョウ LSI セイゾウ ノ キー プロセス

Available at  / 43 libraries

Note

参考文献: 章末

Description and Table of Contents

Description

CMP(Chemical Mechanical Poilshing)技術が大きな注目を浴びている。本技術はSi基板の鏡面出しの一手法(超精密ポリシング)として古くから実用化されてきたが、ここにきて、超LSI用リソグラフィの微細化限界を克服するための平坦化技術としての可能性を秘めていることが明らかになり急浮上してきたもの。本書では本技術の基礎から開発状況、メリット、具体的応用、今後の方向・課題などにつき、各分野の専門家がわかり易く解説した。

Table of Contents

  • 第1章 総論—次世代LSIプロセスにおけるCMPの役割
  • 第2章 超精密加工技術とCMPの基礎—CMPの位置づけとCMP加工のメカニズム
  • 第3章 CMPの要素技術
  • 第4章 デバイスへの適用事例
  • 第5章 CMPの将来

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Details

  • NCID
    BA36801173
  • ISBN
    • 4769311648
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    307p
  • Size
    19cm
  • Classification
  • Subject Headings
  • Parent Bibliography ID
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