VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques

著者

• Hurst, S. L.
• Institution of Electrical Engineers

書誌事項

VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques

Stanley L. Hurst

（IEE circuits, devices and systems series, 9）

Institution of Electrical Engineers, c1998

注記

Bibliography: p. 510-514

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA37184301
• ISBN:
  • 0852969015
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: xx, 532 p.
• 大きさ: 24cm
• 分類:
  • DC21 : 621.3950287
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA36743292