VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
著者
書誌事項
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
(IEE circuits, devices and systems series, 9)
Institution of Electrical Engineers, c1998
大学図書館所蔵 全4件
  青森
  岩手
  宮城
  秋田
  山形
  福島
  茨城
  栃木
  群馬
  埼玉
  千葉
  東京
  神奈川
  新潟
  富山
  石川
  福井
  山梨
  長野
  岐阜
  静岡
  愛知
  三重
  滋賀
  京都
  大阪
  兵庫
  奈良
  和歌山
  鳥取
  島根
  岡山
  広島
  山口
  徳島
  香川
  愛媛
  高知
  福岡
  佐賀
  長崎
  熊本
  大分
  宮崎
  鹿児島
  沖縄
  韓国
  中国
  タイ
  イギリス
  ドイツ
  スイス
  フランス
  ベルギー
  オランダ
  スウェーデン
  ノルウェー
  アメリカ
注記
Bibliography: p. 510-514
Includes index
内容説明・目次
内容説明
The importance of testing integrated circuits (ICs) has escalated with the increasing complexity of circuits fabricated on a single IC chip. No longer is it possible to design a new IC and then think about testing: such considerations must be part of the initial design activity, and testing strategies should be part of every circuit and system designer's education. This book is a comprehensive introduction and reference for all aspects of IC testing. It includes all of the basic concepts and theories necessary for advanced students, from practical test strategies and industrial practice, to the economic and managerial aspects of testing. In addition to detailed coverage of digital network testing, VLSI testing also considers in depth the growing area of testing analogue and mixed analogue/digital ICs, used particularly in signal processing.
目次
Chapter 1: Introduction
Chapter 2: Faults in digital circuits
Chapter 3: Digital test pattern generation
Chapter 4: Signatures and self test
Chapter 5: Structured design for testability (DFT) techniques
Chapter 6: Testing of structured digital circuits and microprocessors
Chapter 7: Analogue testing
Chapter 8: Mixed analogue/digital system test
Chapter 9: The economics of test and final overall summary
Appendices
「Nielsen BookData」 より