Matching Japan in quality : how the leading U.S. semiconductor firms caught up with the best in Japan

書誌事項

Matching Japan in quality : how the leading U.S. semiconductor firms caught up with the best in Japan

William F. Finan

(The MIT Japan program : science, technology, management, MITJP 93-01)

Center for International Studies, Massachusetts Institute of Technology, [1993?]

大学図書館所蔵 件 / 1

この図書・雑誌をさがす

注記

Includes bibliographical references

"Distributed courtesy of the MIT Japan program, science, technology, management"

関連文献: 1件中  1-1を表示

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA37393232
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Cambridge, Mass.
  • ページ数/冊数
    31, [7] p.
  • 大きさ
    28 cm
  • 親書誌ID
ページトップへ