High-resolution electron microscopy for materials science

著者

• 進藤, 大輔 シンドウ, ダイスケ
• 平賀, 賢二 ヒラガ, ケンジ

書誌事項

High-resolution electron microscopy for materials science

D. Shindo, K. Hiraga

Springer-Verlag, 1998

• : pbk

タイトル別名

Zairyō hyōka no tame no kōbunkai no denshi kenbikyōhō

材料評価のための高分解能電子顕微鏡法

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA3780045X
• ISBN:
  • 4431702342
• LCCN: 98020291
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 原本言語コード: jpn
• 出版地: Tokyo
• ページ数/冊数: ix, 190 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • LCC : TA417.23
  • DC21 : 620.1/1299
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Electron microscopy