JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
著者
書誌事項
JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
(I/F essence)
CQ出版, 1998.12
- タイトル読み
-
JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ
大学図書館所蔵 全26件
  青森
  岩手
  宮城
  秋田
  山形
  福島
  茨城
  栃木
  群馬
  埼玉
  千葉
  東京
  神奈川
  新潟
  富山
  石川
  福井
  山梨
  長野
  岐阜
  静岡
  愛知
  三重
  滋賀
  京都
  大阪
  兵庫
  奈良
  和歌山
  鳥取
  島根
  岡山
  広島
  山口
  徳島
  香川
  愛媛
  高知
  福岡
  佐賀
  長崎
  熊本
  大分
  宮崎
  鹿児島
  沖縄
  韓国
  中国
  タイ
  イギリス
  ドイツ
  スイス
  フランス
  ベルギー
  オランダ
  スウェーデン
  ノルウェー
  アメリカ
この図書・雑誌をさがす
注記
参考文献: p180
内容説明・目次
内容説明
本書では、比較的身近になったJTAG対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作することから始め、パソコンのプリンタポートを利用したTAP制御プログラムについてもC言語で紹介している。
目次
- 第1章 JTAGテストの必要性
- 第2章 JTAGテスト対応デバイスの仕組み
- 第3章 JTAGテストの機能
- 第4章 簡易版JTAGテストプログラムの実際
- 第5章 JTAGテストの応用
- 第6章 アナログICのJTAGテスト
「BOOKデータベース」 より