High resolution X-ray diffractometry and topography

著者

• Bowen, D. Keith (David Keith)
• Tanner, B. K. (Brian Keith)

書誌事項

High resolution X-ray diffractometry and topography

D. Keith Bowen and Brian K. Tanner

Taylor & Francis, c1998

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA39292928
• ISBN:
  • 0850667585
• LCCN: 98136331
• 出版国コード: uk
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: London
• ページ数/冊数: x, 252 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : QD945
  • DC21 : 548/.83
  • DC21 : 548.83
• 件名:
  • LCSH : X-ray crystallography
  • LCSH : X-rays -- Diffraction
  • LCSH : Crystals