Reliability and failure of electronic materials and devices

著者

• Ohring, Milton

書誌事項

Reliability and failure of electronic materials and devices

Milton Ohring

Academic Press, c1998

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA3947810X
• ISBN:
  • 0125249853
• LCCN: 98016084
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: San Diego
• ページ数/冊数: xxi, 692 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7870.23
  • DC21 : 621.381
• 件名:
  • LCSH : Electronic apparatus and appliances -- Reliability
  • LCSH : System failures (Engineering)