陽電子の消滅と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定
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陽電子の消滅と拡散特性の同時測定によるSi,Ge中の熱平衡欠陥濃度の精密決定
(科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書, 平成9-10年度)
[出版者不明], 1999.3
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ヨウデンシ ノ ショウメツ ト カクサン トクセイ ノ ドウジ ソクテイ ニヨル Si Ge チュウ ノ ネツヘイコウ ケッカン ノウド ノ セイミツ ケッテイ
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注記
研究課題番号: 09450005
研究代表者: 谷川庄一郎